XAN 310荧光镀层测厚仪介绍：

高性价比的紧凑入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，用于快速、无损分析镀层厚度及合金成分。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。XAN 310可以快速分析成分并用克拉显示测量值，重量%或%。，其他合金成分也会同时得出。

FISC日ERSCOPE.-X-RA丫系统有着出色的精确性和良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，节省时间和精力。由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。XAN 310是一款用户界面友好的台式测量仪器。紧凑型的设计使仪器轻量化并且只需要很小的空间。测量室的门并不是向上打开，而是向前。因此可以使用笔记本放置在仪器上方进行操作，来节省更多的空间。